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SCANOLOGYがJIMTOF 2026に出展、複雑形状の3D測定ソリューションを展示
APPLE TREEの3D測定ブランド「SCANOLOGY」がJIMTOF 2026に出展。大型部品や複雑な配管の非接触3D測定技術を紹介します。
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製造業・生産管理・製造業DXに関する発表を、一次情報へのリンク付きで要約して整理しています。
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APPLE TREEの3D測定ブランド「SCANOLOGY」がJIMTOF 2026に出展。大型部品や複雑な配管の非接触3D測定技術を紹介します。