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SCANOLOGYがJIMTOF 2026に出展、複雑形状の3D測定ソリューションを展示

APPLE TREEの3D測定ブランド「SCANOLOGY」がJIMTOF 2026に出展。大型部品や複雑な配管の非接触3D測定技術を紹介します。

生産現場のシステムNAVI編集部
SCANOLOGYがJIMTOF 2026に出展、複雑形状の3D測定ソリューションを展示

この記事の要点: APPLE TREE株式会社が展開する3D測定ソリューションブランド「SCANOLOGY」は、2026年10月26日から31日まで東京ビッグサイトで開催される「JIMTOF 2026(第33回日本国際工作機械見本市)」に出展します。同ブランドは「複雑形状の測定を、もっと速く、確実に。」をテーマに掲げ、大型部品や複雑な配管、曲面などを非接触で迅速に3Dデータ化する技術を展示します。

発表内容のポイント

  • JIMTOF 2026にて複雑形状の非接触3D測定ソリューションを実機展示
  • 大型部品や配管、曲面など、従来測定が困難だった対象のデータ化を効率化
  • 3Dデータを活用した検査工程の迅速化と、品質判断の精度向上を支援

発表の背景

製造現場では、製品や部品の形状が複雑化する一方で、検査工程のスピードアップと高精度な品質管理が求められています。特に大型の構造物や複雑な配管、自由曲面を持つ部品は、従来の接触式測定器では測定に膨大な時間や手間がかかるという課題がありました。こうした背景から、非接触で迅速に形状をキャプチャできる3Dスキャン技術への関心が高まっています。

何が発表されたのか

今回の出展では、SCANOLOGYが持つ非接触3D測定技術に焦点を当て、複雑な形状をスピーディーに3Dデータ化するソリューションを提案します。対象物の形状をデジタルデータとして取り込むことで、設計データとの比較や寸法測定が容易になり、検査工程における合否判定の効率化が期待できます。ブースでは、実際の測定プロセスやデータ活用の流れを具体的に確認できる構成となる予定です。

製造業・生産管理への見方

本ソリューションは、自動車、航空宇宙、重工業などの大型部品製造や、プラント配管の設計・保守に携わる生産管理・品質保証部門にとって有益な技術です。非接触3Dスキャナーの導入により、測定作業の属人化を防ぎ、検査時間を大幅に短縮することが可能になります。また、取得した3Dデータをリバースエンジニアリングやデジタルツインの構築に活用することで、製造業におけるDX推進を後押しします。

現場で確認したいポイント

  • 自社で扱う大型部品や複雑形状の測定において、どの程度の精度と速度が実現できるか
  • 既存のCADシステムや検査ソフトウェアとのデータ連携のスムーズさ
  • 現場の作業者が直感的に操作できるシステム構成やサポート体制

確認しておきたい点

プレスリリースには、展示される具体的な3Dスキャナーの型番や仕様、デモンストレーションの詳細な内容は記載されていません。具体的な製品スペックや自社ワークへの適用可否については、展示会当日にブースで直接確認するか、事前に問い合わせる必要があります。

出典情報

出典 PR TIMES
発表企業 APPLE TREE 株式会社
発表日時 2026-10-09 10:00:01
元記事 PR TIMESで読む

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