この記事の要点: キヤノンマーケティングジャパン株式会社は、国内独占販売を行うSigray社製のハイブリッド型ナノ3DX線顕微鏡「ApexHybrid-210」が、JFEテクノリサーチ株式会社の受託分析サービスに採用されたことを発表しました。これにより、全固体電池や半導体パッケージといった先端材料・デバイスを対象に、切断処理を伴わない高精度かつ迅速な非破壊3次元解析サービスの提供が本格化します。
発表内容のポイント
- 斜めCTと直交CTを兼ね備えたハイブリッド型X線顕微鏡を国内初納入
- 全固体電池の微細なクラックや、半導体の微細配線構造を非破壊で可視化
- 試作・評価・破壊・解析という従来の開発サイクルを効率化し期間を短縮
発表の背景
全固体電池や半導体パッケージなどの電子デバイス分野では、高性能化に伴い3次元構造化や多層化が進んでいます。しかし、従来の解析手法では材料を切断する必要があり、試作から解析にいたる開発サイクルの長期化が課題でした。また、断面観察は局所的な評価にとどまるため、材料全体の構造を非破壊で詳細に把握できる3次元解析技術へのニーズが高まっていました。
何が発表されたのか
今回導入された「ApexHybrid-210」は、機械的精度の高さが特徴のX線顕微鏡です。JFEテクノリサーチの受託分析サービスでは、硫化物系全固体電池のラミネート型セルにおいて、内部に発生した2μm以下の微細なクラックを直交入射モードで明瞭に検出することに成功しています。さらに、電子デバイス分野では、基板上のCPUを斜入射モードで測定し、配線幅2μm以下とされる接合部の配線構造を非破壊で可視化できる性能を実証しました。
製造業・生産管理への見方
製造業の設計・開発部門や品質保証部門にとって、試作評価のスピードアップは競争力に直結します。特に全固体電池や先端半導体パッケージといった次世代技術の開発において、非破壊で内部構造をサブミクロン単位で可視化できる受託分析サービスの存在は、自社で高額な解析設備を保有せずとも高度な評価を可能にする選択肢となります。開発サイクルの短縮や、不具合発生時の原因究明の迅速化に寄与する技術として注目されます。
現場で確認したいポイント
- 自社で開発・製造する多層構造デバイスの評価に非破壊解析が適用可能か
- 試作評価プロセスにおける破壊検査の割合と、それに伴うリードタイムの現状
- 受託分析サービスを利用した場合の、解析データの精度や納期、コスト感
確認しておきたい点
本装置を用いた具体的な受託分析サービスの利用料金や、解析依頼から結果レポート提供までに要する標準的な期間については、プレスリリース内に記載がありません。
関連リンク
- キヤノンMJ 産業機器製品ページ：Sigray社製X線分析装置の製品情報
- 発表企業サイト
- 発表企業のPR TIMESページ
出典情報
| 出典 | PR TIMES |
|---|---|
| 発表企業 | キヤノンマーケティングジャパン株式会社 |
| 発表日時 | 2026-08-27 15:00:01 |
| 元記事 | PR TIMESで読む |
