この記事の要点: テクトロニクス株式会社は、モジュラ精密テストシステム「MP5000シリーズ」のラインアップを拡充する、200Vデュアル・チャンネルソース・メジャー・ユニット（SMU）モジュール「MSMU200-2型」を発表しました。この新モジュールは、より高い電圧を必要とする半導体の特性評価やデバイスの信頼性テスト、光デバイスの検証などをサポートし、評価段階から量産工程までの統合を加速させます。
発表内容のポイント
- 最大200V、1.5A DCに対応し、最大7Aの拡張パルス機能でデバイスの自己発熱を抑制
- 内蔵デジタイザにより、最大100万サンプル／秒で電圧と電流を高速サンプリング可能
- 「TriggerFlow」機能により、複数チャンネルや外部機器との同期並列テストを簡素化
発表の背景
AIインフラの進展や高速光接続、半導体設計の複雑化に伴い、開発の最終段階だけでなく、設計サイクルの早期段階でシステムレベルの不具合を特定することが求められています。下流工程での不具合発覚によるコスト損失を防ぐため、開発初期の深い特性評価から、チャンネル数が増加する生産現場での量産テストまで、同一のモジュラアーキテクチャでシームレスに移行できる環境が求められていました。
何が発表されたのか
新製品の「MSMU200-2型」は、2つの独立したSMUチャンネルを備え、動作点に応じて最大200V、1.5A DCのソースおよび測定に対応します。最大7Aのパルス機能により、測定歪みや破損の原因となる自己発熱を抑えたテストが可能です。また、自動コンタクトチェック機能や入力過電圧保護機能を備え、接触不良による無効な測定や機器の破損を防ぎます。さらに、新しいグラフィカルインタフェース「TriggerFlow」を搭載し、複数チャンネルや外部ハンドラ等との同期並列テストシーケンスの構築・デバッグを容易にしています。
製造業・生産管理への見方
製造業の品質管理や生産技術部門において、半導体や光デバイスの検査工程の効率化は重要な課題です。本製品は3スロットのメインフレーム「MP5103型」に組み込むことで、1Uのラックスペースに最大6つのチャンネルを構成でき、限られたスペースでの多チャンネル並列テストを実現します。また、メインフレームの電源を切ることなく、前面パネルから個別スロットの停止・再起動やモジュールの交換ができるため、生産ラインの稼働を維持したままシステムの保守や再構成が行える点も、現場のダウンタイム削減に寄与します。
現場で確認したいポイント
- 既存のMP5000シリーズや他社製テストシステムとのリプレイス性や互換性
- 自社で扱う半導体・光デバイスの電圧・電流要件が、本モジュールの仕様範囲に適合するか
- TriggerFlow機能の導入により、現在のテストプログラム作成やデバッグ作業がどの程度効率化されるか
確認しておきたい点
本リリースには、具体的な導入事例や、既存システムから移行した際のスループット向上に関する具体的な数値データは記載されていません。実際の生産ラインへの導入効果については、自社のテスト環境に合わせた検証が必要です。
出典情報
| 出典 | PR TIMES |
|---|---|
| 発表企業 | テクトロニクス株式会社 |
| 発表日時 | 2026-10-01 10:10:01 |
| 元記事 | PR TIMESで読む |
