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Phoxter、3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」を発売

高さ情報の画像化により、従来の2Dカメラでは困難だった色ムラや光沢に影響されない高精度な外観検査を実現。

生産現場のシステムNAVI編集部
Phoxter、3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」を発売

この記事の要点: 株式会社Phoxterは、3Dレーザープロファイル測定器「SV-LPシリーズ」を2026年9月1日より販売開始した。本製品は、同社の画像処理コントローラー「StellaController 2.0」と直接連携し、対象物の「高さ情報」を高品質な画像に変換する。これにより、従来の2D画像処理では検出が難しかった色ムラや光沢のあるワーク、なだらかな打痕や曲げ部のキズなどの外観検査を、AI技術を組み合わせて高精度に行うことが可能になる。

発表内容のポイント

  • 最速67,000Hzのスキャン速度とX軸最高3,200ポイントの超高解像度性能を搭載
  • 3Dデータ処理機能を内蔵した一体型構造により、別置きの中継機器が不要
  • IP67の防護等級を備え、湿気や埃の多い過酷な製造現場の環境にも対応

発表の背景

従来の2Dカメラによる外観検査では、ワークの色ムラや光の反射による誤検出が課題となっていた。また、3Dセンサーを用いる手法でも、従来は基準面のばらつきや演算の複雑さから、曲部のキズ検出におけるしきい値設定が困難であった。さらに、既存の3DセンサーにAI解析用PCを後付けする構成では、データ転送のボトルネックが発生し、検査の高度化やシステムの拡張を阻む要因となっていた。

何が発表されたのか

新発売の「SV-LPシリーズ」は、3Dセンサー自体にデータ処理機能を内蔵した一体型構造を採用している。これにより、余分な中継機器を介さずに、処理しやすい3次元データを画像処理コントローラー「StellaController 2.0」へダイレクトに送信できる。最速67,000Hzのスキャン速度と、X軸最高3,200ポイントの超高解像度スキャン性能により、高速な生産ライン上でも微小な異常を逃さず画像化し、シンプルかつ低コストでAIとルールベースを組み合わせた外観検査システムを構築できる。

製造業・生産管理への見方

自動車・EV部品や電子機器、半導体分野など、ミクロン単位の寸法測定や全数インライン検査が求められる製造現場において、本製品は検査工程の自動化と品質向上に貢献する。具体的には、EVバッテリーパックの溶接検査や寸法測定、車載コネクタピンの平坦度測定、スマートフォン画面の隙間検査など、複雑な形状や光沢を持つ部品の検査に適している。中継機器を省いたシンプルな構成は、ライン設計の簡素化やメンテナンスコストの削減という観点からも、生産管理部門や設備設計者にとって有益な選択肢となる。

現場で確認したいポイント

  • 自社の検査対象ワーク(色ムラや光沢、曲部があるもの)で、高さ画像化による検出効果が得られるか
  • 既存の生産ラインの搬送速度に対して、最速67,000Hzのスキャン性能が十分に適合するか
  • 画像処理コントローラー「StellaController 2.0」との連携を含めたシステム全体の導入コスト

確認しておきたい点

本製品の性能を最大限に発揮するためには、画像処理コントローラー「StellaController 2.0」との連携が前提となる。また、実際のワーク形状や材質による検出精度への影響については、事前に実機での検証やメーカーへの確認が必要である。

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出典情報

出典 PR TIMES
発表企業 株式会社Phoxter
発表日時 2026-09-01 10:11:48
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