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新栄電子計測器、配線を大幅削減したコンデンサ温度特性評価システム「F-300」発売

新栄電子計測器が、独自開発のLCRマルチスキャンシステムを搭載したコンデンサ温度特性評価システム「F-300」を発売。配線本数を大幅に削減し、メンテナンス性を向上させました。

生産現場のシステムNAVI編集部
新栄電子計測器、配線を大幅削減したコンデンサ温度特性評価システム「F-300」発売

この記事の要点: 新栄電子計測器株式会社は、コンデンサの温度特性評価向けシステム「F-300」を発売しました。本システムは、任意の温度環境下において被測定物(DUT)の等価直列抵抗(ESR)や損失係数(tanδ)、静電容量(C)、インピーダンス(Z)などをLCRメーターで測定し、周波数特性を評価するものです。独自開発のLCRマルチスキャンシステムにより、従来課題だった大量のケーブル配線を大幅に削減しています。

発表内容のポイント

  • 独自開発のLCRマルチスキャンシステムにより、接続ケーブル本数を大幅に削減
  • 恒温槽を用いた任意の温度環境下で、コンデンサの各種周波数特性を評価可能
  • 操作アプリのカスタム開発や、現行システムからのリプレースに柔軟に対応

発表の背景

従来のコンデンサ温度特性評価装置では、LCRマルチスキャンシステムと被測定物(DUT)接続治具の間を「チャネル数×4本」のケーブルで接続する必要がありました。そのため、測定チャネル数によってはケーブル本数が数百本にのぼることも珍しくなく、装置の設置や移動、メンテナンス時の大きな負担となっていました。こうした配線作業の煩雑さを解消し、作業性を高めるために本システムが開発されました。

何が発表されたのか

「F-300」は、専用の恒温槽を用い、恒温槽内部のDUT接続治具と外部のLCRマルチスキャンシステムを直接中継基板で接続する設計を採用しています。これにより、従来必要だった大量のケーブル配線を大幅に削減し、設置や移動などのメンテナンス性を向上させました。システムはPC、LCRメーター、LCRマルチスキャンシステム、恒温槽で構成され、顧客の要望に合わせて恒温槽や操作アプリケーション(別途開発)を提供します。

製造業・生産管理への見方

電子部品の信頼性試験や品質管理において、コンデンサの温度特性評価は欠かせないプロセスです。しかし、試験装置の配線が複雑であると、断線リスクやメンテナンス時の工数増加が課題となります。本システムは中継基板接続により配線を簡素化しているため、試験現場における段取り替えや装置移動の効率化、トラブルシューティングの迅速化に寄与します。また、既存システムからのリプレースや機能追加にも柔軟に対応できるため、既存の評価環境の改善を図りたい製造・開発現場に適しています。

現場で確認したいポイント

  • 自社の測定チャネル数において、具体的にどの程度配線本数が削減されるか
  • インピーダンス整合について、自社の測定条件で別途相談が必要になるか
  • 既存の評価システムからリプレースする際、必要な追加機能やアプリの仕様

確認しておきたい点

インピーダンス整合については別途相談が必要とされています。また、本システムを操作するアプリケーションは別途開発となるため、導入費用や納期への影響を事前に確認する必要があります。

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出典情報

出典 PR TIMES
発表企業 新栄電子計測器株式会社
発表日時 2026-07-10 08:00:01
元記事 PR TIMESで読む

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