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OKI、大型高密度基板の目視検査時間を約8割削減するAI技術を開発

OKIがプリント配線板の実装検査における誤検出を減らし、目視検査を効率化するAI技術を開発しました。

生産現場のシステムNAVI編集部
OKI、大型高密度基板の目視検査時間を約8割削減するAI技術を開発

この記事の要点: 沖電気工業株式会社(OKI)は、プリント配線板(PCB)への部品実装後に行う自動光学検査(AOI)において、はんだ不良の誤検出を削減する「目視判定AI技術」を開発しました。この技術は、AOI通過後の目視検査に要する時間を約8割削減するもので、2026年7月1日より同社の「まるごとEMS」顧客向け生産ラインへ導入が開始されます。

発表内容のポイント

  • 自動光学検査(AOI)で発生するはんだ不良の誤検出を減らし、目視検査を効率化
  • 良品データのみを学習させる手法と、独自のアルゴリズムを組み合わせて判定
  • 2026年7月1日から「まるごとEMS」顧客向けの生産ラインへ順次導入を開始

発表の背景

AIの急速な進化と普及に伴い、プリント配線板に実装される半導体は大型化・微細化・積層化が一段と進んでいます。特にAIサーバーなどで用いられる基板は、大型部品や端子間隔が数ミクロンという極めて狭いピッチの部品が多数実装されるため、はんだ不良の判定難易度が上昇し、検査工程の負担となっていました。

何が発表されたのか

今回開発された「目視判定AI技術」は、OKIがモノづくりで培った知見とAIを組み合わせたものです。良品データのみをAIに学習させ、そこからの逸脱度合いに基づいて良・不良を判定する手法を採用しています。これにより、AOIで発生しがちな誤検出を抑制し、検査員の目視判定時間を大幅に短縮しながら、検査精度の向上と製造期間の短縮を両立させます。

製造業・生産管理への見方

実装基板の高密度化が進む製造現場において、AOIの誤検出(過検出)に伴う目視での再確認作業は、生産スループットを低下させる大きな要因となっています。本技術は、良品データのみで学習を行うため、発生頻度が低くデータ収集が困難な不良品サンプルを大量に用意する必要がない点が、実務的な導入ハードルを下げています。検査工程の省力化と品質安定化を目指す製造業DXの好例と言えます。

現場で確認したいポイント

  • 自社工場で発生しているAOIの誤検出率と、目視再検査にかかっている工数の把握
  • 良品のみを学習するAIモデルが、自社製品の多様なはんだ状態に適用可能か
  • 「まるごとEMS」サービスを利用する際の実装ラインへの適用条件

確認しておきたい点

本技術はOKIの「まるごとEMS」顧客向け生産ラインへの導入から開始されるものであり、このAI技術単体での外販や、他社製AOI装置への組み込みパッケージとしての提供有無については、プレスリリース内に明記されていません。

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出典情報

出典 PR TIMES
発表企業 沖電気工業株式会社
発表日時 2026-06-29 12:00:02
元記事 PR TIMESで読む

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