この記事の要点: 株式会社日立ハイテクは、固体試料の分光特性を高精度かつ効率的に測定できる新型の紫外可視近赤外分光光度計「UH9000シリーズ」を発売しました。従来機種「UH4150シリーズ」の平行光束設計を継承しつつ、自動偏光子ホールダなどの自動化機能やマルチスキャン機能を新たに搭載。測定業務の効率化と、作業者のスキルに依存しない安定した測定精度を実現し、製造現場の品質管理や研究開発を支援します。
発表内容のポイント
- 平行光束設計の継承により、固体試料の正反射測定などで高い再現性と測定精度を維持
- 自動偏光子ホールダや自動測定開始機能により、作業工数を約55％削減可能に
- 波長ごとに測定条件を細かく設定できるマルチスキャン機能で、測定時間を約半分に短縮
発表の背景
自動運転や高速通信市場の拡大に伴い、半導体や高機能材料、光学部材に求められる性能要件は高度化しています。これら部材の品質や性能を評価する上で、紫外・可視・近赤外域における分光特性の正確な測定は極めて重要なプロセスです。製造現場や研究開発においては、測定精度の向上だけでなく、限られた人員で効率的に検査・評価業務を進めるための自動化や省力化が強く求められていました。
何が発表されたのか
本シリーズは、幅広い波長領域に対応する「UH9100」と、近赤外域の高感度測定に優れた「UH9200」の2機種をラインアップしています。新搭載の「自動偏光子ホールダ（オプション）」は、PC画面上から偏光子の角度を自動で切り替えられるため、手作業による調整負担を解消します。さらに、試料室の扉の開閉を検知して自動で測定を開始する機能も備え、測定所要時間を約18％短縮します。また、従来機種の付属装置を継続して活用できるため、既存資産を無駄にしない運用が可能です。
製造業・生産管理への見方
半導体や光学材料、高機能フィルムなどの製造ラインや品質保証部門において、分光特性の測定は製品出荷の可否を左右する重要な工程です。本装置の導入により、従来は作業者の手作業や経験値に依存していた偏光子の角度調整や測定条件の設定が自動化・標準化されます。これにより、測定ミスやばらつきを防ぎ、検査工程のタクトタイム短縮と品質管理の高度化を同時に達成できます。また、既存の付属装置資産を活かせるため、設備更新時のコスト抑制にも寄与します。
現場で確認したいポイント
- 自社で保有している従来機種「UH4150シリーズ」の付属装置が、新型機でもそのまま適合するか
- 測定対象とする固体試料のサイズや形状が、本シリーズの大型試料室に適合するか
- 低透過率・低反射率の測定が必要な場合、InGaAs検知器を搭載したUH9200の仕様が合致するか
確認しておきたい点
自動偏光子ホールダはオプション品であるため、標準構成に含まれるか確認が必要です。また、従来機種の付属装置は一部除外されるものがあるため、既存資産を流用する場合は事前確認が推奨されます。
関連リンク
- 日立ハイテク ニュースリリース：本製品の発売に関する公式発表ページです。
- 日立ハイテク コーポレートサイト：日立ハイテクの企業情報や事業紹介のページです。
- 発表企業のPR TIMESページ
出典情報
| 出典 | PR TIMES |
|---|---|
| 発表企業 | 株式会社日立ハイテク |
| 発表日時 | 2026-09-01 11:05:53 |
| 元記事 | PR TIMESで読む |
