この記事の要点: 沖電気工業（OKI）グループのOKIエンジニアリングは、SiCパワー半導体固有の劣化モードを評価する「AC-BTI試験サービス」を2026年11月2日から強化します。評価可能な製品や試験条件を拡大するとともに、試験時間を従来比で最大75％短縮。実際の使用環境に近い条件での効率的な信頼性評価を可能にし、パワー半導体メーカーや搭載機器メーカーの開発期間短縮と品質向上を支援します。
発表内容のポイント
- 試験時間を最大75％短縮し、風力発電向け相当の試験では約231日から約58日に削減
- 欧州の車載信頼性規格「AQG 324」の改定で追加された新たな試験条件にも対応
- カスタムメイドの試験装置を新開発し、ドレイン端子への電圧印加など評価範囲を拡大
発表の背景
SiCパワー半導体は、従来のシリコン製に比べ低損失なため、電気自動車やデータセンター、風力発電などへの採用が進んでいます。一方で、長期間のスイッチング動作によってしきい値電圧が上昇し、電力損失が増加する固有の劣化モード（AC-BTI）が存在します。この長期信頼性の確保が開発上の重要課題となっており、欧州規格の改定や市場の要望に対応するため、試験サービスの強化が求められていました。
何が発表されたのか
今回のサービス強化では、新たに開発・導入したカスタムメイドの試験装置を活用します。これにより、スイッチング動作を高速化し、試験時間を大幅に短縮。例えば、JEITAのガイドラインに記載されている風力発電関連機器（パワーコンディショナー）相当の試験において、従来は約231日かかっていた期間を約58日にまで短縮可能にしました。さらに、2025年の欧州車載規格「AQG 324」改定で追加された、ゲート端子に加えてドレイン端子にも電圧を印加する高度な試験条件にも対応します。
製造業・生産管理への見方
電気自動車（EV）向け駆動インバータや産業用電源、再生可能エネルギー関連機器など、高効率な電力変換が求められる製造業の設計・開発部門にとって、SiCパワー半導体の採用は製品競争力を左右する重要な要素です。しかし、新素材ゆえの長期信頼性評価には膨大な時間がかかることがネックとなっていました。今回の試験サービス強化により、実機に近い過酷な環境での評価期間が大幅に短縮されるため、部材選定や回路設計の検証サイクルが高速化し、製品の市場投入までのリードタイム短縮に直結します。
現場で確認したいポイント
- 自社製品に採用予定、または採用中のSiC MOSFETの長期信頼性データが不足していないか
- 欧州車載規格「AQG 324」やJEITAガイドラインに準拠した評価が自社で実施可能か
- 開発スケジュールにおいて、パワー半導体の信頼性試験にかかる期間がボトルネックになっていないか
確認しておきたい点
本サービスは個別見積もりでの提供となります。また、試験時間の短縮効果（最大75%）は、対象となる製品の仕様や適用する試験規格（風力発電向けなど）の条件によって変動する可能性がある点に留意が必要です。
出典情報
| 出典 | PR TIMES |
|---|---|
| 発表企業 | 沖電気工業株式会社 |
| 発表日時 | 2026-09-29 12:00:02 |
| 元記事 | PR TIMESで読む |
