この記事の要点: テクトロニクス株式会社は、128 GT/sで動作するPCI Express（PCIe）7.0 Base設計向けの自動トランスミッタ／レシーバ・テスト・ソフトウェアを発表しました。新製品の「TekExpress PCIe 7.0」および拡張された「TekRxTest」により、エンジニアはトランスミッタ測定の自動化や高精度なストレス・レシーバ信号の校正、仕様要件に対する設計検証を迅速に行うことが可能になります。
発表内容のポイント
- PCIe 7.0仕様に準拠したトランスミッタ測定、波形取り込み、解析、レポート作成を自動化
- アンリツ製信号品質アナライザと連携し、レシーバのストレス校正や検証ワークフローを簡素化
- 拡張されたPAMJET機能により、複雑なノイズやジッタなどの障害から根本原因を迅速に特定
発表の背景
AIや高性能コンピューティング、データセンターの急速な拡張に伴い、プロセッサやメモリ、ストレージ間で大容量データを高速に伝送する技術が求められています。PCIe 7.0はデータ・レートを前世代の2倍となる128 GT/sに引き上げ、16レーンで最大512 GB/sの双方向帯域幅をサポートします。しかし、この性能向上によって電気的な誤差の許容範囲が極めて狭まり、ノイズやジッタの分離が困難になるという課題が生じていました。
何が発表されたのか
今回発表されたソフトウェア群は、PCIe 7.0の電気検証における3つの重要段階に対応します。トランスミッタ・テストでは、信号対ノイズ比やジッタなどの測定・解析を自動化し、システム統合前のファースト・シリコン評価を容易にします。レシーバ・テストでは、同社のオシロスコープとアンリツ社のシグナルクオリティアナライザ「MP1900A」を統合制御し、再現性の高いテスト環境を構築します。さらに、PAMJET機能の拡張により、個々のPAM4遷移解析やシンボル・エラーへの直接アクセスが可能になり、測定システムの影響を排除したデバイス本来の性能評価が行えます。
製造業・生産管理への見方
製造業におけるDXやスマートファクトリー化、エッジAIの導入が進む中、これらを支える産業用PCやサーバー、通信機器向け半導体の信頼性確保は極めて重要です。PCIe 7.0のような超高速インターフェースを搭載したデバイスの開発現場では、微細なノイズや信号劣化が製品の歩留まりや信頼性に直結します。本ソフトウェアの導入により、開発の初期段階で信号問題を特定・解決できるようになり、試作・検証プロセスの手戻りを防ぎ、最先端の産業用電子部品や制御基板の市場投入までの期間短縮に貢献します。
現場で確認したいポイント
- 自社で開発・採用予定の次世代産業用デバイスや基板がPCIe 7.0の帯域幅を必要とするか
- 既存のテクトロニクス製オシロスコープ（DPO70000SXシリーズ等）やアンリツ製測定器との連携可否
- 前世代（PCIe 5.0/6.0）からの移行において、テストプロセスの互換性が維持できるか
確認しておきたい点
本テスト・ソフトウェアの運用には、テクトロニクス社指定の70GHzオシロスコープ「DPO70000SXシリーズ」や、アンリツ社製シグナルクオリティアナライザ「MP1900A」などの対応ハードウェアが別途必要となります。
出典情報
| 出典 | PR TIMES |
|---|---|
| 発表企業 | テクトロニクス株式会社 |
| 発表日時 | 2026-09-28 10:00:02 |
| 元記事 | PR TIMESで読む |
